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IM800系列SOC芯片测试系统广泛适用于SOC芯片的工程开发验证及量产测试环节，可最大程度满足芯片设计公司、集成电路生产制造企业、专业芯片封装测试厂等客户多种测试应用场景对测试设备的不同需求。
IM800 A
兼顾实验室工程开发验证及量产测试的高性价比SOC测试设备（Max 256CH）
IM800 B
Hard Docking的中规模量产一体式SOC测试设备（Max 512CH）
IM800 C
兼容性强、扩展灵活的标准SOC测试设备（Max960CH）
IM800 D
高同测、高通道、高性能的SOC测试设备（Max 1920CH）
存储器芯片测试系统分为工程验证系统IM8000E和量产测试系统IM8000，它们广泛应用于LPDDR系列、DDR系列等IC验证、筛选及量产测试，可以完成存储芯片的参数测试、功能测试和RA分析修复。
IM8000E
实验室工程用存储器测试机（Max 1600 CH以上）
IM8000
高同测、高通道数的量产用存储器测试机（Max 14000CH以上）
存储器芯片针对非易失性存储IC的Flash存储器芯片测试系统包含工程验证系统IM5000 ES和量产测试系统IM5000，它们广泛应用于Nor Flash, Nand Flash, E2PROM以及RRAM, MRAM, PCM等新型存储器的IC验证、筛选及量产测试，可以完成这些非易失性存储芯片的参数测试、工程测试和RA分析修复。
IM5000 ES
实验室工程用Flash存储器测试系统 (Max 576 CH)
IM5000
量产用Flash存储器测试系统 (Max 2304 CH)